CISC公司的 RFID MeETS (Measurement a nd Evaluation Test System－RFID測量評估測試系統) ，可以用于支持RFID芯片制造商、RFID項目領導人、實驗室或者終端用戶。因為通過它人們可以取得特定芯片的特性數據、評估標簽的性能。MeETS軟件庫的基礎是NI（National Instruments）公司的 LabVIEW軟件和PXI硬件。
CISC公司有豐富的RFID工程知識，歐洲的EPC兼容性測試中心就是利用CISC公司的工程知識進行RFID 芯片的測試試驗。National Instruments 公司則要求CISC利用該公司的RFID 測量技術知識設計一個RFID芯片性能測試軟件包，同時容許利用該公司的LabVIEW軟件。
National Instruments 公司的射頻與通信部門經理Sean Thompson 說：“ 很高興能夠與CISC半導體公司合作。CISC 已經使用我們的測量工具軟件有很長時間，他們在射頻領域有豐富的工程經驗。CISC的軟件庫必定會使現有的NI 測量工具軟件增色許多。”
關于RFID 芯片的測量技術
到2010年全球的RFID芯片的總量會達到330億片，RFID 業每年以指數速度成長，而且還會繼續增長。現在RFID芯片品種不少，設計和制造商也有好多家。RFID的用途和應用場合會不斷增加。一些物質如金屬、液體、塑料，它們有些會吸收、有些會反射電磁波、有些會使電磁波失諧。
為使RFID芯片得到最佳讀取率下列三個重要原則必須遵守：
選擇合適的芯片類型；
確定芯片在物體上面固定的位置和方向；
RFID的安裝，例如安裝在通道口，必須配合良好。
上述三個問題中的兩個CISC公司的 RFID MeETS可以很好回答。測量系統可以準確確定RFID芯片的最佳方向，可以對不同工作頻率的RFID芯片進行評估（對于需要在全球開放式系統工作的芯片尤其重要），可以測定不同芯片的讀取距離。
MeETS 的安裝類別
CISC公司的 RFID MeETS有三種不同的配置，第一種是LabVIEW軟件使用的CISC RFID MeETS 軟件包；第二種是配置CISC RFID MeETS 的NI PXI 硬件；實驗室、研究機構和測試中心則推薦采用完整的軟件硬件系統進行安裝。
RFID 芯片的ISO 與EPCglobalTM 標準
CISC RFID MeETS的開發是根據ISO最新確認的標準以及EPCglobalTM 推薦的標準進行。
CISC半導體公司的CTO，ISO的RFID器件性能與兼容性測試組召集人 DI Josef Preishuber-Pfl?gl 說：“我們公司不但參與ISO 標準化工作，也是EPCglobalTM的重要成員。我們清楚知道RFID的瓶頸所在，也知道如何去解決它們。歐洲的EPC兼容性測試中心完全依靠CISC 的RFID 工程知識進行工作，現在我們非常高興可以為所有RFID用戶提供RFID測量測試系統。”
CISC的研發部經理，EPCglobal TLRPP 小組的領導人Dr. Vojtech Derbek說：“一種RFID芯片如果要在全球范圍使用，重要的一點是不要忘記這種芯片的所有工作頻率和不同國家的不同無線電管制條例。”